簡要描述：悉識(shí)科技光學(xué)非接觸手動(dòng)薄膜膜厚測厚儀AcuiTik白光干涉膜厚測厚儀NS-20采用垂直入射高穩(wěn)定寬波段光的光學(xué)干涉原理，實(shí)現(xiàn)納米至微米級(jí)透明或半透明膜層厚度、反射率及折射率的測量。具備國產(chǎn)化軟硬件、高精度與穩(wěn)定性、非接觸測量及智能化算法等特點(diǎn)，適用于多層復(fù)合薄膜測量。產(chǎn)品包括桌面式手動(dòng)測量系統(tǒng)悉識(shí)膜厚儀NS-20系列，具有高靈活性與便攜性，適合多種應(yīng)用場景。

基礎(chǔ)信息

產(chǎn)品型號(hào)

NS-20

廠商性質(zhì)

生產(chǎn)廠家

更新時(shí)間

2025-11-04

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

膜厚儀

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詳細(xì)介紹

品牌	Acuitik	價(jià)格區(qū)間	10萬-20萬
產(chǎn)地類別	國產(chǎn)	應(yīng)用領(lǐng)域	生物產(chǎn)業(yè),能源,電子/電池,包裝/造紙/印刷,汽車及零部件

　　悉識(shí)膜厚儀NS-20（國產(chǎn)自研，自主可控）

　　這是一款桌面式手動(dòng)膜厚測量分析系統(tǒng)（平價(jià)替代Filmetrics方案）。在保證整體小巧輕盈的同時(shí)，其準(zhǔn)確度和穩(wěn)定性絲毫未減。擁有NanoSense系列所有的算法軟件功能，性價(jià)比高。

　　一、核心原理

　　NS-20 光學(xué)納米級(jí)測厚儀垂直入射的高穩(wěn)定寬波段光入射到樣品表面，在各膜層之間產(chǎn)生光學(xué)干涉現(xiàn)象，反射光經(jīng)過光譜分析以及回歸算法可計(jì)算出薄膜各層的厚度。適合測量納米級(jí)至微米級(jí)的透明或半透明膜層的厚度、反射率、折射率等參數(shù)。