NS-Vista 反射透射測量雙通道膜厚儀
簡要描述：NS-Vista 反射透射測量雙通道膜厚儀是一款技術(shù)優(yōu)良的桌面薄膜厚度測量與分析系統(tǒng)。它具備同時測量反射率和透射率的能力，在測量高反射率或低反射率的樣本時極為強大。
詳細介紹
| 品牌 | Acuitik | 價格區(qū)間 | 面議 |
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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,包裝/造紙/印刷,制藥/生物制藥,汽車及零部件 |
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NS-Vista 反射透射測量雙通道膜厚儀（國家實驗室膜厚測量解決方案）是一款技術(shù)優(yōu)良的桌面薄膜厚度測量與分析系統(tǒng)。它具備同時測量反射率和透射率的能力，在測量高反射率或低反射率的樣本時極為強大。此外Vista Learning算法專為測量表面非常粗糙且極厚的應(yīng)用場景設(shè)計。反射通道的光斑尺寸可輕松從 1.5 毫米調(diào)節(jié)至 0.2 毫米，這大大拓展了厚度測量的應(yīng)用范圍。作為一款桌面設(shè)備，NS-Vista 代表了該領(lǐng)域的優(yōu)良技術(shù)。
一、NS-Vista 反射透射測量雙通道膜厚儀的特色：
1、雙通道同時測量反射率與透射率，皆可結(jié)算厚度；
2、測量高反射率與低反射率樣品能力，玻璃基底的膜厚測量不再難；
3、0.2mm到1.5mm光斑超寬動態(tài)調(diào)整范圍；
4、Vista Learning 算法專為測量表面非常粗糙且極厚的應(yīng)用場景設(shè)計；
二、參數(shù)規(guī)格：
1、取決于具體材料；
2、Si/SiO2(500~1000nm)標樣片；
3、計算100次測量500nm SiO2標準片的1倍標準偏差，對20個有效測量日的1倍標準偏差取平均；
4、計算100次測量500nm SiO2標準片的平均值，對20個有效測量日的平均值做2倍標準偏差。
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