手持式曲面涂層薄膜測厚儀
簡要描述：NS-Touch NIR 手持式曲面涂層薄膜測厚儀（彎曲表面膜厚儀）是悉識科技（AcuiTik）推出的一款專為測量彎曲表面薄膜厚度而設計的手持式設備。
詳細介紹
| 價格區(qū)間 | 面議 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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| 應用領域 | 生物產(chǎn)業(yè),能源,包裝/造紙/印刷,汽車及零部件 | | |
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NS-Touch NIR 手持式曲面涂層薄膜測厚儀（彎曲表面膜厚儀）是悉識科技（AcuiTik）推出的一款專為測量彎曲表面薄膜厚度而設計的手持式設備。能夠在幾秒鐘內(nèi)快速分析薄膜的反射光譜數(shù)據(jù)，并分析單層和多層薄膜的厚度。專用的手持式探頭方便測量諸如眼鏡、車燈等彎曲表面。
一、規(guī)格參數(shù)
- 型號：NS-Touch NIR
- 波長范圍：950 nm – 1700 nm
- 厚度測量范圍：0.1 μm – 250 μm (具體取決于材料)
- 準確度：0.02 μm 或 0.4%
- 測量精度：0.002 μm
- 光斑大?。?00 μm
- 測量速度：< 1秒/次
二、主要特點與應用場景
NS-Touch NIR 的設計特別注重實際操作的便捷性和測量結(jié)果的可靠性，主要特點包括：
1、便捷測量彎曲表面：其手持式探頭設計非常適合直接測量眼鏡、汽車燈罩等不規(guī)則或彎曲表面的膜層，無需復雜取樣。
2、強大的軟件算法：內(nèi)置的 AutoCal算法能有效減少日常校準的繁瑣工作，而自動樣品檢測算法則讓測量過程非常直觀，易于上手。
3、精準測量超薄膜層：針對疏水層（Hydrophobic Layer）這類僅約百個原子厚度的超薄膜，NIR型號利用其近紅外波段特性，能夠?qū)崿F(xiàn)精確測量。它同樣適用于抗反射涂層（AR Coating）和硬化膜（Hard Coating）的單層或多層厚度分析。
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