超薄油膜厚度測(cè)量
簡(jiǎn)要描述：NS-Vista 反射透射測(cè)量雙通道膜厚儀是一款技術(shù)先進(jìn)的桌面薄膜厚度測(cè)量與分析系統(tǒng)。它具備同時(shí)測(cè)量反射率和透射率的能力，在測(cè)量高反射率或低反射率的樣本時(shí)極為強(qiáng)大。
詳細(xì)介紹
| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
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| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,包裝/造紙/印刷,制藥/生物制藥,汽車及零部件 | | |
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NS-Vista 反射透射測(cè)量雙通道膜厚儀（超薄油膜厚度測(cè)量）是一款技術(shù)先進(jìn)的桌面薄膜厚度測(cè)量與分析系統(tǒng)。它具備同時(shí)測(cè)量反射率和透射率的能力，在測(cè)量高反射率或低反射率的樣本時(shí)極為強(qiáng)大。此外Vista Learning算法專為測(cè)量表面非常粗糙且極厚的應(yīng)用場(chǎng)景設(shè)計(jì)。反射通道的光斑尺寸可輕松從 1.5 毫米調(diào)節(jié)至 0.2 毫米，這大大拓展了厚度測(cè)量的應(yīng)用范圍。作為一款桌面設(shè)備，NS-Vista 代表了該領(lǐng)域的先進(jìn)技術(shù)。
一、NS-Vista 反射透射測(cè)量雙通道膜厚儀的特色：
1、雙通道同時(shí)測(cè)量反射率與透射率，皆可結(jié)算厚度；
2、測(cè)量高反射率與低反射率樣品能力，玻璃基底的膜厚測(cè)量不再難；
3、0.2mm到1.5mm光斑超寬動(dòng)態(tài)調(diào)整范圍；
4、Vista Learning 算法專為測(cè)量表面非常粗糙且極厚的應(yīng)用場(chǎng)景設(shè)計(jì)；
二、參數(shù)規(guī)格：
1、取決于具體材料；
2、Si/SiO2(500~1000nm)標(biāo)樣片；
3、計(jì)算100次測(cè)量500nm SiO2標(biāo)準(zhǔn)片的1倍標(biāo)準(zhǔn)偏差，對(duì)20個(gè)有效測(cè)量日的1倍標(biāo)準(zhǔn)偏差取平均；
4、計(jì)算100次測(cè)量500nm SiO2標(biāo)準(zhǔn)片的平均值，對(duì)20個(gè)有效測(cè)量日的平均值做2倍標(biāo)準(zhǔn)偏差。
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